Standards de calibration à faible grossissement MEB et Microscopie optique

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Description

Low Magnification Calibration Standards and Color Calibration Slides

Available for SEM and LM

 

Spécimen de test de silicium
Cet échantillon de test est constitué d’un carré de silicium monocristallin de 5 mm x 5 mm. Il est photo gravé et les carrés se répètent tous les 10µm. Les lignes de division ont une largeur de 1,9 µm.

Une ligne de gravure plus large est apparente tous les 500 µm, ce qui est utile en microscopie optique. Il s’agit d’un excellent spécimen de test
pour comparer le grossissement et évaluer les distorsions dans le champ de l’image.
Il est idéalement utile, dans le contexte des systèmes de comptage automatisé, de rechercher des distorsions inattendues. Lorsque des mesures critiques doivent être effectuées, l’échantillon peut être monté directement sur le spécimen d’étalonnage, de manière à obtenir un étalonnage interne sur le micro-graphique.

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