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EM-Tec PS27 pin stub dual slot vise with two slots of 7 mm wide. Ideal… Show more (+) EM-Tec PS27 pin stub dual slot vise with two slots of 7 mm wide. Ideal for holding thin wafer pieces samples for cross section imaging or other thin samples. Samples are clamped by set screws. Holder size w/o pin is Ø25x7.2mm. Show less (-) |
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Tin on carbon resolution test specimen with tin spheres on carbon substrate. The tin sphere… Show more (+) Tin on carbon resolution test specimen with tin spheres on carbon substrate. The tin sphere size range is 5nm – 30um. Carbon substrate size is 6mm diameter with 2mm height. Due to the large range of sphere sizes this test specimen is ideally suited for a wide range of magnifications and operating voltage. Can be used from low magnifications as low as 100x and zoom in on the smaller spheres for higher magnifications. The nearly perfect round spheres make it easy to Ideal for for resolution testing on standard SEMs. Use at 15,000x magnification or higher. Easy to use resolution specimen for standard SEMs, table top SEMs and training purposes. Excellent tool to test performance and optimize your SEM after a filament change.
Available unmounted or mounted on the most popular SEM stubs. If you work with multiple SEM platforms, look at our SEM stub adapter page. The SEM stub adapters enable you to use a single resolution standard on all SEMs. Show less (-) |
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Tin on carbon resolution test specimen with tin spheres on carbon substrate. The tin sphere… Show more (+) Tin on carbon resolution test specimen with tin spheres on carbon substrate. The tin sphere size range is 5nm – 30um. Carbon substrate size is 6mm diameter with 2mm height. Due to the large range of sphere sizes this test specimen is ideally suited for a wide range of magnifications and operating voltage. Can be used from low magnifications as low as 100x and zoom in on the smaller spheres for higher magnifications. The nearly perfect round spheres make it easy to Ideal for for resolution testing on standard SEMs. Use at 15,000x magnification or higher. Easy to use resolution specimen for standard SEMs, table top SEMs and training purposes. Excellent tool to test performance and optimize your SEM after a filament change.
Available unmounted or mounted on the most popular SEM stubs. If you work with multiple SEM platforms, look at our SEM stub adapter page. The SEM stub adapters enable you to use a single resolution standard on all SEMs. Show less (-) |
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L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-0.1-XY a été développé pour calibrer avec la plus grande précision… Show more (+) L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-0.1-XY a été développé pour calibrer avec la plus grande précision les systèmes SEM, FESEM, FIB, Auger et SIMS. Convient aux grossissements de 10x à 200 000x. Caractéristiques déposées de chrome brillant sur du silicium conducteur ultra-plat pour un étalonnage jusqu'à 2,5 µm et d'or sur chrome pour des caractéristiques d'étalonnage de 1 µm à 100 nm dans les directions X et Y. Les lignes métalliques sur silicium présentent un excellent signal avec un contraste élevé. Les tailles de fonctionnalités du MCS-0.1-XY sont :
2,5 mm, 1,0 mm, 0,5 mm, 250 µm, 100 µm, 10 µm, 5 µm, 2,5 µm, 1 µm, 500 nm, 250 nm et 100 nm dans les directions X et Y. Le 31-C32000 EM-Tec MCS-0.1CF-XY est certifié individuellement à l'aide d'une norme calibrée NIST. Proposé démonté ou monté sur les stubs SEM les plus populaires. Excellente alternative à l'étalon d'étalonnage SIRA abandonné avec des tailles de fonctionnalités compatibles plus faciles à utiliser. Excellente alternative à l'étalon d'étalonnage SIRA abandonné avec des tailles de fonctionnalités compatibles plus faciles à utiliser, voir TSB 31-C32000 EM-Tec MCS-0.1CF replacement for SIRA calibration standard Show less (-) |
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L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-1-XY a été développé pour calibrer avec précision les SEM de table… Show more (+) L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-1-XY a été développé pour calibrer avec précision les SEM de table, les microscopes à lumière réfléchie, les SEM compacts et la plage de grossissement faible à moyen des SEM standard. Convient aux grossissements de 10x à 20 000x. Caractéristiques déposées de chrome brillant sur du silicium conducteur ultra-plat. Les tailles des caractéristiques du MCS-1-XY sont :
2,5 mm, 1,0 mm, 0,5 mm, 250 µm, 100 µm, 10 µm, 5 µm, 2,5 µm et 1 µm dans les directions X et Y.
Le 31-C31000 EM-Tec MCS-1CF-XY est certifié individuellement à l'aide d'un étalon d'étalonnage mesuré NIST. Proposé démonté ou monté sur les stubs SEM les plus populaires. Show less (-) |
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L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-0.1-XY a été développé pour calibrer avec précision les systèmes SEM… Show more (+) L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-0.1-XY a été développé pour calibrer avec précision les systèmes SEM, FESEM, FIB, Auger et SIMS. Convient aux grossissements de 10x à 200 000x. Caractéristiques déposées de chrome brillant sur du silicium conducteur ultra-plat pour un étalonnage jusqu'à 2,5 µm et d'or sur chrome pour des fonctionnalités d'étalonnage de 1 µm à 100 nm. Les lignes métalliques sur silicium présentent un excellent signal avec un contraste élevé. Les tailles des caractéristiques du MCS-0.1-XY sont :
2,5 mm, 1,0 mm, 0,5 mm, 250 µm, 100 µm, 10 µm, 5 µm, 2,5 µm, 1 µm, 500 nm, 250 nm et 100 nm dans les directions X et Y. Le 31-T32040 EM-Tec MCS-0.1TR-XY est traçable NIST au niveau de la tranche par rapport à un étalon calibré NIST. Proposé démonté ou monté sur les stubs SEM les plus populaires. Bonne alternative à l'étalon d'étalonnage SIRA abandonné. Show less (-) |
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L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-1-XY a été développé pour calibrer avec précision les SEM de table… Show more (+) L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-1-XY a été développé pour calibrer avec précision les SEM de table, les microscopes à lumière réfléchie, les SEM compacts et la plage de grossissement faible à moyen des SEM standards. Convient aux grossissements de 10x à 20 000x. Caractéristiques déposées de chrome brillant sur du silicium conducteur ultra-plat. Les tailles des caractéristiques du MCS-1-XY sont :
2,5 mm, 1,0 mm, 0,5 mm, 250 µm, 100 µm, 10 µm, 5 µm, 2,5 µm et 1 µm dans les directions X et Y.
Le 31-T31000 EM-Tec MCS-1TR-XY est traçable au niveau de la tranche par rapport à un étalon d'étalonnage mesuré par le NIST. Proposé démonté ou monté sur les stubs SEM les plus populaires. Show less (-) |
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L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-0.1-XY a été développé pour calibrer avec la plus grande précision… Show more (+) L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-0.1-XY a été développé pour calibrer avec la plus grande précision les systèmes SEM, FESEM, FIB, Auger et SIMS. Convient aux grossissements de 10x à 200 000x. Caractéristiques déposées de chrome brillant sur du silicium conducteur ultra-plat pour un étalonnage jusqu'à 2,5 µm et d'or sur chrome pour des caractéristiques d'étalonnage de 1 µm à 100 nm dans les directions X et Y. Les lignes métalliques sur silicium présentent un excellent signal avec un contraste élevé. Les tailles de fonctionnalités du MCS-0.1-XY sont :
2,5 mm, 1,0 mm, 0,5 mm, 250 µm, 100 µm, 10 µm, 5 µm, 2,5 µm, 1 µm, 500 nm, 250 nm et 100 nm dans les directions X et Y. Le 31-C32000 EM-Tec MCS-0.1CF-XY est certifié individuellement à l'aide d'une norme calibrée NIST. Proposé démonté ou monté sur les stubs SEM les plus populaires. Excellente alternative à l'étalon d'étalonnage SIRA abandonné avec des tailles de fonctionnalités compatibles plus faciles à utiliser. Excellente alternative à l'étalon d'étalonnage SIRA abandonné avec des tailles de fonctionnalités compatibles plus faciles à utiliser, voir TSB 31-C32000 EM-Tec MCS-0.1CF replacement for SIRA calibration standard Show less (-) |
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Technical Data Sheet : Evaporated Aluminum On 3mm Grid |
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Evaporated Pt/Ir on Holey carbon film. Holey carbon film support provides holes for ease of… Show more (+) Evaporated Pt/Ir on Holey carbon film. Holey carbon film support provides holes for ease of focus and astigmatism correction. The dots of evaporated Pt/Ir provide dense particles for resolution checks through the particle seperation test.
Technical Data Sheet: Evaporated Platinum Iridium in Holey Carbon Film for Point Separation Resolution Test
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