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L'échantillon de test KPFM & EFM a été spécialement conçu pour tester les performances de… Show more (+) L'échantillon de test KPFM & EFM a été spécialement conçu pour tester les performances de la microscopie à force à sonde Kelvin et de la microscopie à force électrostatique. Cet échantillon de test pratique est constitué de réseaux avec des lignes alternées d'aluminium et d'or déposées sur un substrat de silicium recouvert d'oxyde de silicium Show less (-) |
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L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-0.1-XY a été développé pour calibrer avec la plus grande précision… Show more (+) L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-0.1-XY a été développé pour calibrer avec la plus grande précision les systèmes SEM, FESEM, FIB, Auger et SIMS. Convient aux grossissements de 10x à 200 000x. Caractéristiques déposées de chrome brillant sur du silicium conducteur ultra-plat pour un étalonnage jusqu'à 2,5 µm et d'or sur chrome pour des caractéristiques d'étalonnage de 1 µm à 100 nm dans les directions X et Y. Les lignes métalliques sur silicium présentent un excellent signal avec un contraste élevé. Les tailles de fonctionnalités du MCS-0.1-XY sont :
2,5 mm, 1,0 mm, 0,5 mm, 250 µm, 100 µm, 10 µm, 5 µm, 2,5 µm, 1 µm, 500 nm, 250 nm et 100 nm dans les directions X et Y. Le 31-C32000 EM-Tec MCS-0.1CF-XY est certifié individuellement à l'aide d'une norme calibrée NIST. Proposé démonté ou monté sur les stubs SEM les plus populaires. Excellente alternative à l'étalon d'étalonnage SIRA abandonné avec des tailles de fonctionnalités compatibles plus faciles à utiliser. Excellente alternative à l'étalon d'étalonnage SIRA abandonné avec des tailles de fonctionnalités compatibles plus faciles à utiliser, voir TSB 31-C32000 EM-Tec MCS-0.1CF replacement for SIRA calibration standard Show less (-) |
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L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-1-XY a été développé pour calibrer avec précision les SEM de table… Show more (+) L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-1-XY a été développé pour calibrer avec précision les SEM de table, les microscopes à lumière réfléchie, les SEM compacts et la plage de grossissement faible à moyen des SEM standard. Convient aux grossissements de 10x à 20 000x. Caractéristiques déposées de chrome brillant sur du silicium conducteur ultra-plat. Les tailles des caractéristiques du MCS-1-XY sont :
2,5 mm, 1,0 mm, 0,5 mm, 250 µm, 100 µm, 10 µm, 5 µm, 2,5 µm et 1 µm dans les directions X et Y.
Le 31-C31000 EM-Tec MCS-1CF-XY est certifié individuellement à l'aide d'un étalon d'étalonnage mesuré NIST. Proposé démonté ou monté sur les stubs SEM les plus populaires. Show less (-) |
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L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-0.1-XY a été développé pour calibrer avec précision les systèmes SEM… Show more (+) L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-0.1-XY a été développé pour calibrer avec précision les systèmes SEM, FESEM, FIB, Auger et SIMS. Convient aux grossissements de 10x à 200 000x. Caractéristiques déposées de chrome brillant sur du silicium conducteur ultra-plat pour un étalonnage jusqu'à 2,5 µm et d'or sur chrome pour des fonctionnalités d'étalonnage de 1 µm à 100 nm. Les lignes métalliques sur silicium présentent un excellent signal avec un contraste élevé. Les tailles des caractéristiques du MCS-0.1-XY sont :
2,5 mm, 1,0 mm, 0,5 mm, 250 µm, 100 µm, 10 µm, 5 µm, 2,5 µm, 1 µm, 500 nm, 250 nm et 100 nm dans les directions X et Y. Le 31-T32040 EM-Tec MCS-0.1TR-XY est traçable NIST au niveau de la tranche par rapport à un étalon calibré NIST. Proposé démonté ou monté sur les stubs SEM les plus populaires. Bonne alternative à l'étalon d'étalonnage SIRA abandonné. Show less (-) |
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L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-1-XY a été développé pour calibrer avec précision les SEM de table… Show more (+) L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-1-XY a été développé pour calibrer avec précision les SEM de table, les microscopes à lumière réfléchie, les SEM compacts et la plage de grossissement faible à moyen des SEM standards. Convient aux grossissements de 10x à 20 000x. Caractéristiques déposées de chrome brillant sur du silicium conducteur ultra-plat. Les tailles des caractéristiques du MCS-1-XY sont :
2,5 mm, 1,0 mm, 0,5 mm, 250 µm, 100 µm, 10 µm, 5 µm, 2,5 µm et 1 µm dans les directions X et Y.
Le 31-T31000 EM-Tec MCS-1TR-XY est traçable au niveau de la tranche par rapport à un étalon d'étalonnage mesuré par le NIST. Proposé démonté ou monté sur les stubs SEM les plus populaires. Show less (-) |
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L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-0.1-XY a été développé pour calibrer avec la plus grande précision… Show more (+) L'étalon d'étalonnage EM-Tec MCS-0.1-XY a été développé pour calibrer avec la plus grande précision les systèmes SEM, FESEM, FIB, Auger et SIMS. Convient aux grossissements de 10x à 200 000x. Caractéristiques déposées de chrome brillant sur du silicium conducteur ultra-plat pour un étalonnage jusqu'à 2,5 µm et d'or sur chrome pour des caractéristiques d'étalonnage de 1 µm à 100 nm dans les directions X et Y. Les lignes métalliques sur silicium présentent un excellent signal avec un contraste élevé. Les tailles de fonctionnalités du MCS-0.1-XY sont :
2,5 mm, 1,0 mm, 0,5 mm, 250 µm, 100 µm, 10 µm, 5 µm, 2,5 µm, 1 µm, 500 nm, 250 nm et 100 nm dans les directions X et Y. Le 31-C32000 EM-Tec MCS-0.1CF-XY est certifié individuellement à l'aide d'une norme calibrée NIST. Proposé démonté ou monté sur les stubs SEM les plus populaires. Excellente alternative à l'étalon d'étalonnage SIRA abandonné avec des tailles de fonctionnalités compatibles plus faciles à utiliser. Excellente alternative à l'étalon d'étalonnage SIRA abandonné avec des tailles de fonctionnalités compatibles plus faciles à utiliser, voir TSB 31-C32000 EM-Tec MCS-0.1CF replacement for SIRA calibration standard Show less (-) |
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Réf
Product
Application
Pattern
Material
Nominal Pitch
Mounting
D80111-31M
301BE
AFM, SEM,
TOF-SIMS, Auger, etc...
Parallel Ridges
Ti lines on silica
300 nm
mounted
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Réf
Product
Application
Pattern
Material
Nominal Pitch
Mounting
D80111-31
301BE
AFM, SEM,
TOF-SIMS, Auger, etc...
Parallel Ridges
Ti lines on silica
300 nm
unmounted
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